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FP-006C

FP-006C 一款专门针对eMMC颗粒存储芯片进行整盘产品高低温老化的老化板。
采用整盘产品同时接触技术，精度高。

详细信息

性能特点

1：占用空间小

2：可同时测试152pcs 产品

3：ARM 内可建制BIB 自我检测功能

4：BIB 板内建制温度侦测功能

5：预留MES 系统对接接口

6：单颗DUT 独立电源设计，保护产品


设备规格

设备型号FP-006C
使用产品类别eMMC
温度范围‘-20°~85°
测试DUT 数152pcs
尺寸400mm（长）*380mm（宽）*50mm（高）
重量4kg






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