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FLA-6630AS

FLA-6630AS 高低温老化设备,是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高低温老化的设备。
设备采用专业工控机和Windows系统控制,能够同时支持5040颗芯片同步老化测试,腔体可在产生高温(低温)的同时确保温度精准。

详细信息

性能特点

1:温度精准,产品周边温度稳定控制在±3°内

2:升降温速度快

3:可同时针对5040颗芯片进行老化测试

4:测试座独立可拔插替换式,方便更换与维护

5:预留MES 系统对接接口

6:更換不同 socket board 即可兼容生产 eMCP/eMCP/ePOP 产品

7:单颗DUT 独立电源设计,保护产品


设备规格

设备型号FLA-6630AS
使用产品类别UFS/eMMC/eMCP/ePOP
温度范围‘-20°~85°
测试DUT 数5040pcs
电源三相380V
功率30KV
尺寸3350mm(长)*1450mm(深)*2300mm(高)
重量1200kg